美國X-Rite愛色麗color i7臺式分光光度計(jì)

簡要描述：重復(fù)精度（白板）： 0.01 RMS△E CIELab
儀器間*性：0.08 CIE Lab平均值
光源：脈沖氙燈，校準(zhǔn)D65
光譜范圍：360nm-750nm
波長間隔：10nm

產(chǎn)品型號： color i7

所屬分類：色差計(jì)

更新時(shí)間：2024-08-12

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美國X-Rite愛色麗color i7臺式分光光度計(jì)產(chǎn)品簡介  
Color i7  一款功能齊備的標(biāo)準(zhǔn)級儀器，用于建立可靠的數(shù)字工作流程，可對紡織品，塑料，涂料，液體和增白樣品進(jìn)行準(zhǔn)確無誤的測量。嵌入式NetProfiler系統(tǒng)與自我診斷和自動配置功能相結(jié)合，可確保*，準(zhǔn)確的性能。
愛色麗color i7臺式分光光度計(jì)特點(diǎn)
優(yōu)質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)級儀器：Color i7保證可靠的數(shù)字化工作流程。現(xiàn)在，無論您在何處生產(chǎn)色彩，都能*地進(jìn)行迅速、高效、準(zhǔn)確的配色。這款的參考工具，運(yùn)用的智能技術(shù)可在儀器未經(jīng)校準(zhǔn)或者超出性能范圍時(shí)阻止色彩測量。
高容量性能：用于在大容量的生產(chǎn)操作中測量各種樣品的理想中檔臺式機(jī)解決方案，具有的易操作性和靈活性；
內(nèi)嵌NetProfiler：一種內(nèi)置系統(tǒng)，可以監(jiān)控儀器性能，并可通過互聯(lián)網(wǎng)進(jìn)行優(yōu)化和認(rèn)證，無需其他附加服務(wù)，幫助您在節(jié)省操作成本的同時(shí)輕松交換光譜顏色數(shù)據(jù)；
同時(shí)測量SCI/SCE和UV標(biāo)準(zhǔn)：三光束技術(shù)能同時(shí)測量SCI（包括鏡面反射）和SCE（排除鏡面反射），可進(jìn)行相關(guān)光澤測量并進(jìn)行光澤修正配色，這樣能簡易的模擬人眼對色彩的視覺效果。自動UV（紫外光）控件可快速方便地進(jìn)行自動UV D65校準(zhǔn)和調(diào)整，并同時(shí)進(jìn)行包含/排除UV的測量，這有助于精確測量光學(xué)增亮或含熒光的樣品；
完善的自動配置簡化設(shè)置并消除測量錯(cuò)誤：因?yàn)橄到y(tǒng)可自動進(jìn)行配置，所以實(shí)際操作中不可能采用錯(cuò)誤的測量結(jié)果。另外，每次測量還會包含一個(gè)“數(shù)字簽名”，來驗(yàn)證儀器的狀態(tài)。所以使用您數(shù)據(jù)的任何人，包括供應(yīng)商、客戶或其他操作人員和機(jī)構(gòu)，都將知道數(shù)據(jù)是可靠的。
反射和透射測量：三個(gè)測量孔徑，可用于反射和全透射以及直接透射測量，可以用來測量不同大小的樣品。儀器還可以水平或垂直擺放，這樣可以測量不同大小，不同形狀，不同透明狀態(tài)的各種樣品，增加了測量靈活性；
遠(yuǎn)程標(biāo)準(zhǔn)、式樣按鈕：遠(yuǎn)程讀取按鈕允許用戶直接在Color i5儀器上出發(fā)測量并將數(shù)據(jù)識別為標(biāo)準(zhǔn)或是試樣測量，樣品預(yù)覽功能允許用戶驗(yàn)證樣品測量區(qū)域，在加速測量的同時(shí)避免錯(cuò)誤；與愛色麗軟件結(jié)合使用時(shí)，被測量樣品區(qū)域的圖像還可被保留存檔。
*的LED狀態(tài)面板會在數(shù)據(jù)有風(fēng)險(xiǎn)時(shí)進(jìn)行警告：允許用戶和監(jiān)控人員快速驗(yàn)證Color i5的狀態(tài)和配置。

美國X-Rite愛色麗color i7臺式分光光度計(jì)技術(shù)參數(shù)
重復(fù)精度（白板）： 0.01 RMS△E CIELab
儀器間*性：0.08 CIE Lab平均值
光源：脈沖氙燈，校準(zhǔn)D65
光譜范圍：360nm-750nm
波長間隔：10nm
光度測定范圍：0%-200%反射率
光度測定分辨率：0.001%
測量時(shí)間：2.5秒
反射孔徑：25mm/17mm/10mm/6mm
全透射孔徑：22mm/17mm/10mm/6mm
直接透射孔徑：22mm
光學(xué)配置：三光束/漫射8度/6英寸積分球/2D CCD陣列、全息光柵
特別功能：同步進(jìn)行SCI/SCE測量，自動UV及鏡頭調(diào)節(jié)，數(shù)字簽名，嵌入式NetProfiler，水平或垂直測量